|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 114 van 130 gevonden artikelen
| Titel: |
Stress measurement and simulation of the key silicon-based structures based on infrared photoelasticity |
| Auteur: |
Xu, Zikang Zhang, Shuiqiang Zhang, Dongsheng Chang, Lin Zheng, Yuqing Wang, Yongli |
| Verschenen in: |
Optics and lasers in engineering |
| Paginering: | Jaargang 184 () nr. P1 pagina's p. |
| Jaar: |
2025 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 114 van 130 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |