|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 60 van 93 gevonden artikelen
| Titel: |
Nanoscale surface roughness measurement based on frequency-domain interferometry principle |
| Auteur: |
Zhang, Qiukun Wang, Wenxuan Zhong, Jialu Lin, Jiewen Chen, Jinguo Luo, Manting Yu, Yingjie |
| Verschenen in: |
Optics and lasers in engineering |
| Paginering: | Jaargang 178 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2024 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 60 van 93 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |