|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 25 van 26 gevonden artikelen
| Titel: |
Spectral interference ellipsometry for film thickness measurement on transparent substrate |
| Auteur: |
Zhang, Jinxu Shi, Liheng Zhang, Ruixue Chen, Jiayang Wu, Guanhao |
| Verschenen in: |
Optics and lasers in engineering |
| Paginering: | Jaargang 171 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2023 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 25 van 26 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |