Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
   volgende >>
     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
           Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
                                       Details van artikel 1 van 68 gevonden artikelen
 
 
  A Fizeau interferometry stitching system to characterize X-ray mirrors with sub-nanometre errors
 
 
Titel: A Fizeau interferometry stitching system to characterize X-ray mirrors with sub-nanometre errors
Auteur: da Silva, Murilo B.
Alcock, Simon G.
Nistea, Ioana-Theodora
Sawhney, Kawal
Verschenen in: Optics and lasers in engineering
Paginering: Jaargang 161 () nr. C pagina's p.
Jaar: 2023
Inhoud:
Uitgever: Published by Elsevier B.V.
Bronbestand: Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften
 
 

                             Details van artikel 1 van 68 gevonden artikelen
 
   volgende >>
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland