|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 32 van 34 gevonden artikelen
| Titel: |
Surface topography measurement of microstructures near the lateral resolution limit via coherence scanning interferometry |
| Auteur: |
Sun, Yifeng Gao, Zhishan Ma, Jianqiu Zhou, Juntao Xie, Pengfei Wang, Lingjie Lei, Lihua Fu, Yunxia Guo, Zhenyan Yuan, Qun |
| Verschenen in: |
Optics and lasers in engineering |
| Paginering: | Jaargang 152 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2022 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 32 van 34 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |