|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 22 van 58 gevonden artikelen
| Titel: |
Flexible and high-resolution surface metrology based on stitching interference microscopy |
| Auteur: |
Chen, Shanyong Lu, Wenwen Guo, Jingyang Zhai, Dede Chen, Weiwei |
| Verschenen in: |
Optics and lasers in engineering |
| Paginering: | Jaargang 151 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2022 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 22 van 58 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |