|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 28 van 64 gevonden artikelen
| Titel: |
High-accuracy simultaneous measurement of surface profile and film thickness using line-field white-light dispersive interferometer |
| Auteur: |
Guo, Tong Zhao, Guanhua Tang, Dawei weng, Qianwen Sun, Changbin Gao, Feng Jiang, Xiangqian |
| Verschenen in: |
Optics and lasers in engineering |
| Paginering: | Jaargang 137 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2021 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
The Authors |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 28 van 64 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |