|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 6 van 7 gevonden artikelen
| Titel: |
Stress intensity factor extraction using moiré interferometry based on a two-parameter displacement eigenfunction: Validity criteria and comparison with ASTM E-399 KIC plane strain test methods |
| Auteur: |
Epstein, J.S. Jung, H.Y. Reuter, W.G. |
| Verschenen in: |
Optics and lasers in engineering |
| Paginering: | Jaargang 13 (1990) nr. 2 pagina's 14 p. |
| Jaar: |
1990 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 6 van 7 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |