|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 29 van 35 gevonden artikelen
| Titel: |
Quality control and authentication of packaged integrated circuits using enhanced-spatial-resolution terahertz time-domain spectroscopy and imaging |
| Auteur: |
Ahi, Kiarash Shahbazmohamadi, Sina Asadizanjani, Navid |
| Verschenen in: |
Optics and lasers in engineering |
| Paginering: | Jaargang 104 (2018) nr. C pagina's 274-284 |
| Jaar: |
2018 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 29 van 35 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |