|
| << vorige |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 14 van 14 gevonden artikelen
| Titel: |
TID effects on I–V characteristics of bulk CMOS STD and ELT-based devices in 600 nm |
| Auteur: |
Vaz, Pablo I. Wirth, Gilson I. Vidor, Fábio F. Both, Thiago H. |
| Verschenen in: |
Microelectronics journal |
| Paginering: | Jaargang 97 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2020 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 14 van 14 gevonden artikelen
| << vorige |