|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 15 van 16 gevonden artikelen
| Titel: |
Total-ionization-dose characterization of a radiation-hardened mixed-signal microcontroller SoC in 180 nm CMOS technology for nanosatellites |
| Auteur: |
Ge, X. Gao, W. Xue, F. Zhao, C. Zhao, Y. Li, X. Jiang, D. Liu, H. Li, Y. Sun, G. |
| Verschenen in: |
Microelectronics journal |
| Paginering: | Jaargang 87 () nr. C pagina's 65-72 |
| Jaar: |
2019 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 15 van 16 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |