|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 16 van 17 gevonden artikelen
| Titel: |
Impact of work-function variation on analog figures-of-merits for high-k/metal-gate junctionless FinFET and gate-all-around nanowire MOSFET |
| Auteur: |
Lü, Wei-Feng Dai, Liang |
| Verschenen in: |
Microelectronics journal |
| Paginering: | Jaargang 84 () nr. C pagina's 54-58 |
| Jaar: |
2019 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 16 van 17 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |