|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 18 van 23 gevonden artikelen
| Titel: |
FPGA-based testing system of NAND-memory multi-chip modules |
| Auteur: |
Podryadchikov, Sergey Putrolaynen, Vadim Belyaev, Maksim Chuvstvin, Mikhail Tabachnik, Igor |
| Verschenen in: |
Microelectronics journal |
| Paginering: | Jaargang 83 () nr. C pagina's 73-76 |
| Jaar: |
2019 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 18 van 23 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |