|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 14 van 15 gevonden artikelen
| Titel: |
Statically triggered 3×VDD-Tolerant ESD detection circuit in a 90-nm low-voltage CMOS process |
| Auteur: |
Yang, Zhaonian Yang, Yuan Yu, Ningmei Liou, Juin J. |
| Verschenen in: |
Microelectronics journal |
| Paginering: | Jaargang 78 () nr. C pagina's 88-93 |
| Jaar: |
2018 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 14 van 15 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |