|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 8 van 19 gevonden artikelen
| Titel: |
A PVT resilient short-time measurement solution for on-chip testing |
| Auteur: |
Jedari, Esrafil Rashidzadeh, Rashid Saif, Mehrdad |
| Verschenen in: |
Microelectronics journal |
| Paginering: | Jaargang 75 () nr. C pagina's 35-40 |
| Jaar: |
2018 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 8 van 19 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |