|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 4 van 9 gevonden artikelen
| Titel: |
Architectures of bulk built-in current sensors for detection of transient faults in integrated circuits |
| Auteur: |
Possamai Bastos, Rodrigo Guimarães, Leonel Acunha Sill Torres, Frank Fesquet, Laurent |
| Verschenen in: |
Microelectronics journal |
| Paginering: | Jaargang 71 () nr. C pagina's 70-79 |
| Jaar: |
2018 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 4 van 9 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |