|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 13 van 14 gevonden artikelen
| Titel: |
Variability aware transistor stack based regression surrogate models for accurate and efficient statistical leakage estimation |
| Auteur: |
Garg, Lokesh |
| Verschenen in: |
Microelectronics journal |
| Paginering: | Jaargang 69 () nr. C pagina's 1-19 |
| Jaar: |
2017 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 13 van 14 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |