Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
<< vorige    volgende >>
     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
           Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
                                       Details van artikel 8 van 10 gevonden artikelen
 
 
  Charge pumping test technique using CMOS ring oscillator on leakage issue
 
 
Titel: Charge pumping test technique using CMOS ring oscillator on leakage issue
Auteur: Liu, Yongbo
Zhu, Zhengyong
Zhu, Huilong
Wan, Guangxing
Li, Junfeng
Zhao, Chao
Verschenen in: Microelectronics journal
Paginering: Jaargang 68 () nr. C pagina's 40-43
Jaar: 2017
Inhoud:
Uitgever: Elsevier Ltd
Bronbestand: Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften
 
 

                             Details van artikel 8 van 10 gevonden artikelen
 
<< vorige    volgende >>
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland