|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 8 van 10 gevonden artikelen
| Titel: |
Charge pumping test technique using CMOS ring oscillator on leakage issue |
| Auteur: |
Liu, Yongbo Zhu, Zhengyong Zhu, Huilong Wan, Guangxing Li, Junfeng Zhao, Chao |
| Verschenen in: |
Microelectronics journal |
| Paginering: | Jaargang 68 () nr. C pagina's 40-43 |
| Jaar: |
2017 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 8 van 10 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |