|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 14 van 15 gevonden artikelen
| Titel: |
Reliability analysis of Junction-less Double Gate (JLDG) MOSFET for analog/RF circuits for high linearity applications |
| Auteur: |
Abhinav, Rai, Sanjeev |
| Verschenen in: |
Microelectronics journal |
| Paginering: | Jaargang 64 () nr. C pagina's 60-68 |
| Jaar: |
2017 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 14 van 15 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |