|
| << vorige |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 19 van 19 gevonden artikelen
| Titel: |
Thermal resistance modeling in FDSOI transistors with industry standard model BSIM-IMG |
| Auteur: |
Kushwaha, Pragya Bala Krishna, K. Agarwal, Harshit Khandelwal, Sourabh Duarte, Juan-Pablo Hu, Chenming Chauhan, Yogesh Singh |
| Verschenen in: |
Microelectronics journal |
| Paginering: | Jaargang 56 () nr. C pagina's 171-176 |
| Jaar: |
2016 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 19 van 19 gevonden artikelen
| << vorige |