|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 8 van 17 gevonden artikelen
| Titel: |
Circuit reliability estimation based on an iterative PTM model with hybrid coding |
| Auteur: |
Xiao, Jie Lee, William Jiang, Jianhui Yang, Xuhua |
| Verschenen in: |
Microelectronics journal |
| Paginering: | Jaargang 52 () nr. C pagina's 117-123 |
| Jaar: |
2016 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 8 van 17 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |