|
| volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 1 van 12 gevonden artikelen
| Titel: |
A Binary Decision Diagram based on-line testing of digital VLSI circuits for feedback bridging faults |
| Auteur: |
Biswal, Pradeep Kumar Biswas, Santosh |
| Verschenen in: |
Microelectronics journal |
| Paginering: | Jaargang 46 () nr. 7 pagina's 598-616 |
| Jaar: |
2015 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 1 van 12 gevonden artikelen
| volgende >> |