|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 8 van 10 gevonden artikelen
| Titel: |
Process variability-induced NoC link failure: A probabilistic model |
| Auteur: |
Gawish, Eman Kamel El-Kharashi, M. Watheq Abu-Elyazeed, M.F. |
| Verschenen in: |
Microelectronics journal |
| Paginering: | Jaargang 46 () nr. 3 pagina's 248-257 |
| Jaar: |
2015 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 8 van 10 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |