|
| << vorige |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 11 van 11 gevonden artikelen
| Titel: |
Thermal transient characterization of semiconductor devices with multiple heat sources—Fundamentals for a new thermal standard |
| Auteur: |
Schweitzer, Dirk Ender, Ferenc Hantos, Gusztáv Szabó, Péter G. |
| Verschenen in: |
Microelectronics journal |
| Paginering: | Jaargang 46 () nr. 2 pagina's 174-182 |
| Jaar: |
2015 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 11 van 11 gevonden artikelen
| << vorige |