|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 17 van 34 gevonden artikelen
| Titel: |
A novel test optimizing algorithm for sequential fault diagnosis |
| Auteur: |
Yang, Chenglin Yan, Junhao Long, Bing Liu, Zhen |
| Verschenen in: |
Microelectronics journal |
| Paginering: | Jaargang 45 () nr. 6 pagina's 719-727 |
| Jaar: |
2014 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 17 van 34 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |