|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 3 van 15 gevonden artikelen
| Titel: |
Capacitance characterization of tapered through-silicon-via considering MOS effect |
| Auteur: |
Wang, Fengjuan Zhu, Zhangming Yang, Yintang Liu, Xiaoxian Ding, Ruixue |
| Verschenen in: |
Microelectronics journal |
| Paginering: | Jaargang 45 () nr. 2 pagina's 205-210 |
| Jaar: |
2014 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 3 van 15 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |