|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 8 van 16 gevonden artikelen
| Titel: |
Defect detection of IC wafer based on two-dimension wavelet transform |
| Auteur: |
Liu, Hongxia Zhou, Wen Kuang, Qianwei Cao, Lei Gao, Bo |
| Verschenen in: |
Microelectronics journal |
| Paginering: | Jaargang 41 (2010) nr. 2-3 pagina's 7 p. |
| Jaar: |
2010 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 8 van 16 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |