|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 2 van 16 gevonden artikelen
| Titel: |
A prognostic method for the embedded failure monitoring of solder interconnections with 1149.4 test bus architecture |
| Auteur: |
Voutilainen, Juha Putaala, Jussi Moilanen, Markku Jantunen, Heli |
| Verschenen in: |
Microelectronics journal |
| Paginering: | Jaargang 40 () nr. 7 pagina's 1069-1080 |
| Jaar: |
2009 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 2 van 16 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |