|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 11 van 55 gevonden artikelen
| Titel: |
Deep-level defects study of arsenic-implanted ZnO single crystal |
| Auteur: |
Zhu, C.Y. Ling, C.C. Brauer, G. Anwand, W. Skorupa, W. |
| Verschenen in: |
Microelectronics journal |
| Paginering: | Jaargang 40 () nr. 2 pagina's 286-288 |
| Jaar: |
2009 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 11 van 55 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |