|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 9 van 12 gevonden artikelen
| Titel: |
Ruggedness analysis of 3.3kV high voltage diodes considering various buffer structures and edge terminations |
| Auteur: |
Heinze, B. Lutz, J. Felsl, H.P. Schulze, H.-J. |
| Verschenen in: |
Microelectronics journal |
| Paginering: | Jaargang 39 () nr. 6 pagina's 868-877 |
| Jaar: |
2008 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 9 van 12 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |