|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 3 van 42 gevonden artikelen
| Titel: |
Built-in-self-test techniques for MEMS |
| Auteur: |
Mir, S. Rufer, L. Dhayni, A. |
| Verschenen in: |
Microelectronics journal |
| Paginering: | Jaargang 37 () nr. 12 pagina's 1591-1597 |
| Jaar: |
2006 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 3 van 42 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |