|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 7 van 19 gevonden artikelen
| Titel: |
Characterization and ellipsometric investigation of high-quality ZnO and ZnO(Ga2O3) thin alloys by reactive electron-beam co-evaporation technique |
| Auteur: |
Al Asmar, R. Atanas, J.-P. Zaatar, Y. Podlecki, J. Foucaran, A. |
| Verschenen in: |
Microelectronics journal |
| Paginering: | Jaargang 37 (2006) nr. 10 pagina's 6 p. |
| Jaar: |
2006 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 7 van 19 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |