|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 7 van 15 gevonden artikelen
| Titel: |
Dielectric breakdown characteristics and interface trapping of hafnium oxide films |
| Auteur: |
Zhan, N. Poon, M.C. Wong, Hei Ng, K.L. Kok, C.W. |
| Verschenen in: |
Microelectronics journal |
| Paginering: | Jaargang 36 () nr. 1 pagina's 29-33 |
| Jaar: |
2005 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 7 van 15 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |