|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 2 van 14 gevonden artikelen
| Titel: |
Characterization of interface degradation in deep submicron MOSFETs by gate-controlled-diode measurement |
| Auteur: |
Huang, J Chen, T.P Tse, M.S Ang, C.H |
| Verschenen in: |
Microelectronics journal |
| Paginering: | Jaargang 33 () nr. 8 pagina's 639-643 |
| Jaar: |
2002 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Science Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 2 van 14 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |