|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 2 van 19 gevonden artikelen
| Titel: |
Characterization of defect traps in SiO2 thin films influence of temperature on defects |
| Auteur: |
Rosaye, Jean-Yves Kurumado, Norihiko Sakashita, Mitsuo Ikeda, Hiroya Sakai, Akira Mialhe, Pierre Charles, Jean-Pierre Zaima, Shigeaki Yasuda, Yukio Watanabe, Yurihiko |
| Verschenen in: |
Microelectronics journal |
| Paginering: | Jaargang 33 () nr. 5-6 pagina's 429-436 |
| Jaar: |
2002 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Science Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 2 van 19 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |