|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 7 van 23 gevonden artikelen
| Titel: |
Effects of burn-in stressing on radiation response of power VDMOSFETs |
| Auteur: |
Stojadinovic, N Djoric-Veljkovic, S Manic, I Davidovic, V Golubovic, S |
| Verschenen in: |
Microelectronics journal |
| Paginering: | Jaargang 33 () nr. 11 pagina's 899-905 |
| Jaar: |
2002 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Science Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 7 van 23 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |