|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 10 van 23 gevonden artikelen
| Titel: |
Impact of technology scaling on thermal behavior of leakage current in sub-quarter micron MOSFETs: perspective of low temperature current testing |
| Auteur: |
Semenov, Oleg Vassighi, Arman Sachdev, Manoj |
| Verschenen in: |
Microelectronics journal |
| Paginering: | Jaargang 33 () nr. 11 pagina's 985-994 |
| Jaar: |
2002 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 10 van 23 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |