|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 19 van 21 gevonden artikelen
| Titel: |
Steep retrograde indium channel profiling for high performance nMOSFETs device fabrication |
| Auteur: |
Ong, S.Y. Chor, E.F. Leung, Y.K. Lee, James Li, W.S. See, Alex Chan, Lap |
| Verschenen in: |
Microelectronics journal |
| Paginering: | Jaargang 33 () nr. 1-2 pagina's 55-60 |
| Jaar: |
2002 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Science Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 19 van 21 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |