|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 7 van 15 gevonden artikelen
| Titel: |
Latchup characterization of 0.18-micron STI cobalt silicided test structures |
| Auteur: |
Goh, Wang-Ling Yeo, Kiat-Seng Lazuardi, Stephen Peng, Wei Leong, Kam-Chew Chan, Lap See, Alex |
| Verschenen in: |
Microelectronics journal |
| Paginering: | Jaargang 32 () nr. 9 pagina's 725-731 |
| Jaar: |
2001 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Science Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 7 van 15 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |