|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 6 van 15 gevonden artikelen
| Titel: |
Development of a rapid and automated TEM sample preparation method in semiconductor failure analysis and the study of the relevant TEM artifact |
| Auteur: |
Dai, J.Y. Tee, S.F. Tay, C.L. Song, Z.G. Ansari, S. Er, E. Redkar, S. |
| Verschenen in: |
Microelectronics journal |
| Paginering: | Jaargang 32 () nr. 3 pagina's 221-226 |
| Jaar: |
2001 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Science Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 6 van 15 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |