|
| << vorige |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 15 van 15 gevonden artikelen
| Titel: |
Thickness-dependent thermal reliability of low-dielectric constant polycrystalline PTFE submicron dielectric thin films |
| Auteur: |
Kim, H.K. Shi, F.G. |
| Verschenen in: |
Microelectronics journal |
| Paginering: | Jaargang 32 () nr. 3 pagina's 215-219 |
| Jaar: |
2001 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Science Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 15 van 15 gevonden artikelen
| << vorige |