|
| << vorige |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 13 van 13 gevonden artikelen
| Titel: |
Zinc diffusion process investigation of InP-based test structures for high-speed avalanche photodiode fabrication |
| Auteur: |
Yun, Ilgu Hyun, Kyung-Sook |
| Verschenen in: |
Microelectronics journal |
| Paginering: | Jaargang 31 () nr. 8 pagina's 635-639 |
| Jaar: |
2000 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Science Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 13 van 13 gevonden artikelen
| << vorige |