|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 2 van 15 gevonden artikelen
| Titel: |
Applications of the 45° reflectometry in the study of optical properties of confined semiconductor systems |
| Auteur: |
Silva-Castillo, A. Madrigal-Melchor, J. Pérez-Rodrı́guez, F. |
| Verschenen in: |
Microelectronics journal |
| Paginering: | Jaargang 31 () nr. 6 pagina's 433-438 |
| Jaar: |
2000 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Science Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 2 van 15 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |