|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 8 van 22 gevonden artikelen
| Titel: |
Evaluation of electron pressure effect in low-field drain region of submicron GaAs MESFET using ensemble Monte Carlo simulation |
| Auteur: |
Yamada, Y Hasegawa, M |
| Verschenen in: |
Microelectronics journal |
| Paginering: | Jaargang 31 () nr. 11-12 pagina's 923-927 |
| Jaar: |
2000 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Science Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 8 van 22 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |