|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 10 van 15 gevonden artikelen
| Titel: |
IC yield estimation at early stages of the design cycle |
| Auteur: |
Chen, Tom Kim, Von-Kyoung Tegethoff, Mick |
| Verschenen in: |
Microelectronics journal |
| Paginering: | Jaargang 30 () nr. 8 pagina's 725-732 |
| Jaar: |
1999 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Science Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 10 van 15 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |