|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 7 van 31 gevonden artikelen
| Titel: |
Comparative study of the GaAs (113), (115), (001), (1 1 5), (1 1 3), and (110) surfaces by atomic force microscopy, low energy electron diffraction, and reflectance anisotropy spectroscopy |
| Auteur: |
Pristovsek, Markus Menhal, H. Schmidtling, T. Esser, N. Richter, W. |
| Verschenen in: |
Microelectronics journal |
| Paginering: | Jaargang 30 () nr. 4-5 pagina's 449-453 |
| Jaar: |
1999 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 7 van 31 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |