|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 9 van 18 gevonden artikelen
| Titel: |
Carrier freezeout in strained p-type Si1−x Ge x and its influence on the low temperature characteristics of SiGe heterojunction bipolar transistors |
| Auteur: |
Liu, Rong Qian, Wensheng Wei, Tongli |
| Verschenen in: |
Microelectronics journal |
| Paginering: | Jaargang 30 () nr. 3 pagina's 275-280 |
| Jaar: |
1999 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Science Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 9 van 18 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |