|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 15 van 16 gevonden artikelen
| Titel: |
Thick-film resistor quality indicator based on noise index measurements |
| Auteur: |
Jevtić, M.M. Mrak, I. Stanimirović, Z. |
| Verschenen in: |
Microelectronics journal |
| Paginering: | Jaargang 30 () nr. 12 pagina's 1255-1259 |
| Jaar: |
1999 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Science Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 15 van 16 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |