|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 5 van 14 gevonden artikelen
| Titel: |
High-resolution interferometry and electronic speckle pattern interferometry applied to the thermomechanical study of a MOS power transistor |
| Auteur: |
Nassim, K Joannes, L Cornet, A Dilhaire, S Schaub, E Claeys, W |
| Verschenen in: |
Microelectronics journal |
| Paginering: | Jaargang 30 () nr. 11 pagina's 1125-1128 |
| Jaar: |
1999 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Science Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 5 van 14 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |