|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 7 van 17 gevonden artikelen
| Titel: |
High resolution temperature mapping of microelectronic structures using quantitative fluorescence microthermography |
| Auteur: |
Herzum, C. Boit, C. Kölzer, J. Otto, J. Weiland, R. |
| Verschenen in: |
Microelectronics journal |
| Paginering: | Jaargang 29 () nr. 4-5 pagina's 163-170 |
| Jaar: |
1998 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 7 van 17 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |